製品情報
【生産画面】
高集積多ピンデバイスの、量産を強力サポート。
最大4個の同時テストを行うことができます。
リーズナブルな価格設定により、テスタ本体の増設も容易。
高い耐故障性と明快なユーザインタフェースで、効率的な量産をお手伝いします。
【特徴】
・最大2048ピン(PMU最大128個)
・最大60Aの大電流電源(HCDPS)を搭載可能
・最大4DUT同時測定
・JTAG等による設定/情報読み出しに対応するファンクション機能(最大144ピン)を用意
リーズナブルな価格設定により、テスタ本体の増設も容易。
高い耐故障性と明快なユーザインタフェースで、効率的な量産をお手伝いします。
【特徴】
・最大2048ピン(PMU最大128個)
・最大60Aの大電流電源(HCDPS)を搭載可能
・最大4DUT同時測定
・JTAG等による設定/情報読み出しに対応するファンクション機能(最大144ピン)を用意
仕様
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対応ピン数
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最大2048ピン観(傷・色むら)検査
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同時測定デバイス数
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4個(512ピン/DUT)
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テスト項目
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簡易ファンクション測定
DCパラメトリック測定(電圧印加電流測定・電流印加電圧測定) |
本体外形寸法・重量
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570W×1582H×800D (mm)・200kg
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テストヘッド外形寸法・重量
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430W×326.4H×580D (mm)・50kg
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