接触・非接触COT検査発行装置

  上:【モジュール位置ずれ外観検査】
下:【パンチ穴検査】
【モジュール外観検査】
 
【COT接触検査発行】 【COT非接触検査発行】  

出荷・受入時点での、モジュールへの安心。

ICカード用モジュールCOT(Chip On Tape)の出荷検査、並びに受け入れ検査及び発行を行う装置です。


COT段階でテストを行い、良品さけに共通部分のプログラムを書き込むことが出来れば、
0次・1次発行でのICカードの生産性を向上させることが出来ます。



一般的なDC特性検査、発行、外観検査も粉えます。
もちろん測定項目の変更や追加には、カスタマイズで柔軟に対応します。
お客様の信頼性のあるICモジュール製品の大量生産を、協力にご支援します。

           
仕様  
基本機能 接触部検査発行(T8000参照)
非接触検査発行部(ポーリング・コマンド伝送試験・発行)
外観検査部(COT端子表面傷汚れ検査・モールド面形状位置ずれ検査)
不良パンチ部    
参考外形寸法 本体:3500W×1800H×900D (mm)    
要求設備 三相200V30A
エア0.5Mpa 70L/min