V2048
Open Short Test System

高集積多ピンデバイスの、量産を強力サポート。
最大4個の同時テストを行うことができます。
リーズナブルな価格設定により、テスタ本体の増設も容易。
高い耐故障性と明快なユーザインタフェースで、
効率的な量産をお手伝いします。
【特徴】
・最大2048ピン(PMU最大128個)
・最大60Aの大電流電源(HCDPS)を搭載可能
・最大4DUT同時測定
・JTAG等による設定/情報読み出しに対応するファンクション機能(最大144ピン)を用意
| 対応ピン数 | 最大2048ピン |
|---|---|
| 同時測定デバイス数 | 4個(512ピン/DUT) |
| テスト項目 | 簡易ファンクション測定 DCパラメトリック測定(電圧印加電流測定・電流印加電圧測定) |
| 本体外形寸法・重量 | 570W×1582H×800D (mm)・200kg |
| テストヘッド外形寸法・重量 | 430W×326.4H×580D (mm)・50kg |
【生産画面】