半導体テスター

→V800

LSI Logic Test System

V800 イメージ

テスト周波数10MHzで、可能性を拓く。

動作周波数にこだわらなくても、魅力あるLSIは開発できます。
V800は低価格・省スペースながら、MCUを含むロジックLSIのテストに、必要な機能をご提供します。

シンプルで誤操作の可能性の少ないユーザ・インタフェースも、魅力です。


仕様
対応ピン数 最大128ピン
同時測定デバイス数 4個(テスト・レート10MHz)
テスト項目 ファンクション測定
DCパラメトリック測定(電圧印加電流測定・電流印加電圧測定)
本体外形寸法・重量 532W×692H×750D (mm)・100kg
テストヘッド外形寸法・重量 430W×271.1H×511D (mm)・50kg
生産画面

【生産画面】