V8000
LSI Logic Test System
テストレート20MHzの、新しい地平へ。
20MHz帯の高付加価値LSI開発を、フレキシブルに支援します。
お客様の新しいアイディアから、市場までの距離を短縮します。
【特徴】
･20MHzのテストレート
･最大256ピンI/O
･最大8DUT同時測定。さらにSPMU搭載でテスト時間短縮に貢献
･V800、V777、V7100との上位互換性
| 対応ピン数 | 最大256ピンI/O |
|---|---|
| 同時測定デバイス数 | 8個（32ピン/DUT） |
| テスト項目 | ファンクション測定、IDDQ測定ユニット（オプション） DCパラメトリック測定（電圧印加電流測定・電流印加電圧測定） |
| 本体外形寸法・重量 | 730W×813H×1010D (mm)・200kg |
| テストヘッド外形寸法・重量 | 495.2W×315.7H×720D (mm)・50kg |
【生産画面】
