製品情報

T8200Shannon［量産向け検査装置］

T9300 製品紹介

RFIDの製造工程において高速(0.15sec)で検査が可能に！
T8200Shannonは、量産を意識した、ICカード・タグの共振周波数とQ値を測定する
検査装置です。1CHから最大32CHの同時検査が可能です。
国内外のRFID製造現場で採用されている実績ある検査ソリューションです。

T8200Shannon製品画像

T8200Shannon装置あり製品画像

特徴

T8200Shannon特徴リスト

同時測定数1～32CHに対応
多チャンネル同時測定により、量産現場で求められる高いスループットを実現します。
高速測定（1回わずか0.15sec）
面付けシート製品やロール製品の全数検査に最適な高速処理性能を備えています。
生産ライン組み込み用I/O出力
1～32CHのPASS/FAIL判定をI/Oで出力し、自動化設備との連携が可能です。
カスタム検査ヘッドに対応
測定対象のコイルデザインに合わせた特注製作が可能。生産装置への組み込みにも最適です。
ICカード・RFIDタグの品質安定をサポート
高精度測定により、安定した品質での出荷検査を実現します。

T8200Shannon動画

製品紹介

上記動画は当社で撮影したものになります。
本テスターの導入を検討、及びデモ検査をご希望の方は是非お問い合わせ下さい。

T8200Shannon製品画像

検査画面・ログ画面

検査画面

ログ画面

仕様
測定内容	透過電圧または反射電圧の振幅
検査項目	共振周波数、減衰量、Q値、減衰量リミットテスト (オプション：通信) UID/PUPI/IDm読み取り
UID読取対応プロトコル注1）	ISO14443TypeA（MIFARE Classic, MIFARE Ultralight）：UID ISO14443TypeB：PUPI Felica：IDm ISO15693（Tag it HF-I Plus/Pro, I・CODE SLIX2）：UID
測定ポイント数	100～2048ポイント
検査時間注2)	ID読取検査なし：0.15sec (typ) (測定ポイント数=500,平均化数4回の場合)
検査結果保存機能注3)	検査ログファイル(csv)：・生産ロット単位で集計ロット開始、終了時間、PASS/FAIL, 共振周波数, 減衰量, Q値
周波数設定範囲	1MHz～100MHz
RFパワー (＠50Ω負荷)	-30～+15 dBm
動作モード	PC連動モード　・マニュアル(手動操作) 　・ディジタルIO (DIO) スタンドアロンモード　・ディジタルIO (DIO)
DIO回路形式 Typical特性	絶縁(フォトカプラ)入出力出力端子：VCC=12～24V, Iout < 20 mA, 残留電圧 < 1 V
DIO端子絶対最大定格	入力端子：入力順電流 50mA、逆電圧6V 出力端子：順電圧40V、逆電圧6V、sink電流80mA、許容損失100mW/ch
システム要件	OS：Windows 10,11 USB2.0以上
電源	DC5V±5% (消費電流1A以下) 電源コネクタ形状：　DC Power Jack (2.0mm)pin
付属物	同軸ケーブル(1m×4本)、ACアダブター、DIOコネクタ、USB-RS485変換ケーブル（入力AC100-240V 50/60Hz 0.3A 出力DC5V 2.0A）、COMケーブル、ショートプラグ（2個）、WindowsインストールCD
寸法、質量	1スロット筐体：170 (W)×165 (D)×39 (H)mm（突起含まず）、約0.6㎏ 8スロット筐体：360 (W)×205 (D)×180mm (H)mm（突起含まず）、約3.5㎏本体：約0.3㎏
動作保証環境	5℃～35℃（校正実行時温度から±3℃以内）
ウォームアップタイム	30分

注1）本器はRFIDリーダ・ライタではありません。検査対象の通信性能を評価することを目的とした機器ではありません。検査対象によっては、IDが読み取れない場合があります。
注2)検査時間は、ご使用のPCや本器の検査設定内容、検査対象の特性等に依存します。
注3)検査ログはPC連動モード時のみ保存されます。
※仕様・外観は予告なしに変更される場合があります。

アプリケーションソフトのダウンロード

下記ボタンからT8200Shannonのアプリケーションソフトのダウンロード専用ページに移動できます。
専用ページにはパスワードが必要です。